XC65Dx

Производитель: Nikon Metrology
Характеристики

Функциональные характеристики

Ширина линии сканирования

3x65 мм

Расстояние сканирования

75 мм

Диапазон измерений (Z)

3x65 мм

Разрешение

65 мкм

Скорость сканирования

3x25000 точек/с

Точностные характеристики

Погрешность измерений

12 мкм

Эксплуатационные характеристики

Класс лазера

Класс 2

Улучшенная технология сканирования

ESP3

Общие характеристики

Габаритные размеры

155x86x142 мм

Вес

440 г

Перейти на страницу серии
Обратитесь к специалистам за подбором оборудования
Наши специалисты проконсультируют вас по всем заинтересовавшим вас вопросам — расскажут об отраслях применения продукции, помогут подобрать оборудование под ваши нужды
Спецпредложения